当测试不锈钢管的辐射时，首次应用测试程序时，应根据制造商的测试文件拍摄参考胶片，以检查用于确保胶片质量的方法。当以下一个或多个参数发生更改时，应修改测试文件：

a）来源类型;

b）曝光方法;

c）影片类型;

d）加强屏幕或过滤器模型;

e）胶片处理方法。

如果测试文件已经过重大修改，则应采用一组新的参考底片。这些否定应单独采取或从一系列可接受的否定中选择;在后一种情况下，应从生产批次中选择代表性工件或第一件工件的负片。在第一种情况下，参考薄膜是单独拍摄的，薄膜应由制造商保存，以便它可以用于生产批次。在第二种情况下，参考胶片从一系列可接受的底片中选择，胶片应由制造商保存并可供使用，直至将其交给客户（如果有转移计划）。然后使用生产批次中某个工件的合格负片创建一组新的参考底片。等等等等。

在这两种情况下，在胶片上使用“JZ”来表示参考胶片的标记。在使用产品薄膜（第二种情况）作为基膜时，应该在报告中注意到。薄膜制造商应确保所交付的薄膜符合规定的要求，并提供薄膜储存和使用所需的所有技术信息。不允许超过制造商规定的失效日期的影片。薄膜应在使用前储存在制造商要求的温度和湿度下。雾度是指在没有曝光的情况下直接显影和固定的薄膜的总黑度。胶片的雾度不应超过0.3。

使用金属铅箔增感屏。增感屏的表面应非常光滑，无皱纹。图像质量计应具有以下标记:标准编号JB/T 7902，材料编号FE，线径编号W10/W16，W6/W12。在表中示出了在不同厚度的射线胶片上显示的最小线径和相应的线径数。使用铅过滤器放置在测试件和重合之间，并且过滤器的厚度为0.5mm，1mm，1.5mm或2mm。

厚度为0.5mm至1.5mm的过滤器在一个角上钻一个直径为3mm的孔作为识别标记。在一个角上钻一个2毫米厚的过滤器，两个直径为3毫米的孔用于识别。挡板由一层或多层铅板组成，这些铅板靠着盒子的背面放置并且具有至少2mm的厚度，在一个角处钻有两个直径为5mm的孔。

为了检查反向散射效应，应在面罩背面贴上“B”字样标记（高13 mm，厚1.6 mm）。如果B的较亮图像出现在胶片的黑色背面，则后向散射保护较差。应该重新拍照。但是，如果在较浅的背面出现较暗的B图像，则不会将其用作拒绝胶片质量的基础。摄影胶片应用程序通过出现在测试区域外的数字和字母来识别。如果使用了照明标记，通常应在胶片曝光前使用。胶片标记应使胶片标记对应于待检查的区域，并且位置标记应标有铅并放置在距离凹槽至少5 mm的位置。影片标记不应妨碍对被检查区域的评估。

黑度计用于确定胶片上的黑度，读数精度为±0.1。应至少每六个月检查一次黑度计并检查一次（热稳定后，黑度参考底片用于校准）。黑度参考负值（第二标准负值）应每年校样一次。观察灯用于观察负片（单片或两片观片）。它应具有4.5的最大亮度，负片的最大黑度和可调节的漫射光强度。对于不需要观察或透光率过大的部件，应使用合适的遮阳板来遮挡眩光。

X射线机和加速器的光源尺寸（高度和直径）和聚焦尺寸应由光源或X光机或加速器提供。当用低于400kV的X射线或Irl927射线照射时，几何不清晰度值不超过0.3mm;当用促进剂照射时，几何不清晰度值不超过1mm。通过黑度计测量膜的黑度，并且选择曝光条件使得膜的有效评价区域中的黑度满足以下要求：对于两件式评价，黑度应大于2.7并且应与观察灯的亮度相匹配，且不大于4.5。当双层检查区域的某些部分的薄膜黑度大于4.5时，可以使用单件式观察，并评估单段检测区域中的两个负片;对于单件评价，当允许单件评价时，黑度应大于或等于2，且应与观察灯的亮度相匹配，不应超过4.5;当使用两件式评级时，在每个负片的相同点处测量的黑度差异不应该在限定的黑度区域中。超过0.5。

该测试的目的是确保处理薄膜以使薄膜在未来得到最佳保存。膜的保存期限与硫代硫酸根离子的量直接相关。当硫代硫酸根离子的浓度小于0.050g/m 2时，通常确保底片具有长的保存期限。

用膜推荐器推荐的溶液对处理过的未使用的膜进行化学蚀刻，然后在视觉上将所得图像与代表日光中各种浓度的典型图像进行比较，并相应地评价硫代硫酸根离子。内容。上述测试应在胶片处理后1周内完成。改变产品薄膜的漂洗条件，并重新测量薄膜中硫代硫酸根离子的含量。如果发现硫代硫酸根离子的浓度大于0.050g/m2，则应采取以下措施：